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荧光寿命成像和相关分析软件

产品型号:SymPhoTime 64

所属分类:荧光显微寿命光谱仪

更新时间:2023-11-06

简要描述:SymPhoTime 64是一款集数据采集和分析为一身的软件,它被用来控制MicroTime 200,MicroTime 100,及LSM升级系统这三种显微共聚焦系统,和其他TCSPC设备。该软件需要在64位操作系统下工作,拥有简单易懂的用户操作界面。结构清晰,功能强大,使用户可以更高效的获取数据分析结果,并可以通过Workspace模式更加直观的管理数据。

详细说明:

武汉东隆科技有限公司是德国PicoQuant公司国内总代理,如需了解产品更多详情,请随时联系我们.

荧光寿命成像和相关分析软件SymPhoTime 64是一款集数据采集和分析为一身的软件,它被用来控制,,及升级系统这三种显微共聚焦系统,和其他设备。该软件需要在位操作系统下工作,拥有简单易懂的用户操作界面。结构清晰,功能强大,使用户可以更高效的获取数据分析结果,并可以通过模式更加直观的管理数据。最后,通过基于语言的用户自定义编译脚本功能,用户可以任意改变分析和测量的具体步骤。

特点:

  • 功能强大的64位数据采集和分析软件

  • 单点,2D,和3D的TTTR数据采集,包含有可在线预览FLIM,FCS,time trace和TCSPC数据的功能

  • FLIM、快速FLIM和FLIM-FRET

  • FCS、FCCS、FLCS、PIE-FCS,符合相关,总相关分析

  • FRET、PIE-FRET

  • 荧光随时间的分析及单分子荧光爆发现象分析

  • 各向异性分析

  • TCSPC寿命拟合,包括先进的误差分析

  • 基于"STUPSLANG"语言的用户自定义编译脚本功能


应用:

荧光寿命成像和相关分析软件SymPhoTime 64可以被用于时间分辨共聚焦数据采集实验,如:

  • 时间分辨荧光

  • 荧光寿命成像(FLIM)

  • 磷光寿命成像(PLIM)

  • 荧光相关光谱(FCS)

  • 荧光寿命相关光谱(FLCS)

  • 荧光共振能量转移(FRET)

  • 超分辨显微(STED)

  • 双聚焦荧光相关光谱(2fFCS)

  • 脉冲交错激发(PIE)

  • 单分子探测/光谱学

  • Pattern Matching分析

  • 时间分辨磷光(TRPL)

  • TRPL成像

  • 镧化物上转换

  • 反聚束


参数:

数据采集

可联用TCSPC模块

HydraHarp 400, PicoHarp 330, PicoHarp 300, TimeHarp 260, MultiHarp 150TimeHarp 200 (仅数据导入)

可联用荧光系统

MicroTime 200
MicroTime 100

激光扫描显微系统(LSM),支持Nikon, OlympusZeiss品牌
单独的TCSPC模块
通过TCP/IP接口远程控制(支持ZENNIS Elements)

探测通道数量

18 detectors

采集模式

单点采集,多点采集,2D成像(XYXZYZ)3D成像(XYZ),定时成像(XYT),用于调节系统时使用的示波器模式

采集预览

FLIM, FCS, FLCSFCCS, Time Trace, TCSPC柱状图
最多同时在线显示4种数据

自动化测量

Z轴逐层成像,定时成像,图片缝合,多点测量

硬件控制

PDL 828 "Sepia II"激光驱动器
E-710, E-725, E-727
和宽范围扫描仪控制器(Physik Instrumente)

MicroTime 200的快门系统
MicroTime 200
中宽视场荧光相机IDS uEye USB3

数据分析

总体特点

时间门控
Binning

TCSPC binning
TCSPC
拟合(15多指数衰减拟合)

最小平方拟合,最大可能性估算拟合, IRF解卷积拟合,尾部拟合,自举误差分析

TCSPC曲线的全局化分析

图形化交互界面

成像

FLIM, FLIM-FRET,荧光强度FRET,各向异性成像, (时间门控)荧光强度成像

Pattern Matching,快速Pattern Matching
可调寿命颜色分配及对比度
特定区域分析(ROI)

用于相位分析的Bin输出(通过荧光动力学实验室开发的第三方软件Globals

相关分析

FCS, FCCS, FLCS, PIEFCS
STED-FCS, STED-FLCS
FCS
拟合(拟合模型:扩散常数,三重态,构象分析,质子化,高斯PSF,用户自定义,自举误差分析)
全局分析
FCS
校准
反聚束/符合相关,总相关

FRET

PIE (脉冲交错激发)
渗滤校正
FLIM-FRET

STED

STED,门控STED, STED-FLIM,交错脉冲STED及共聚焦,分辨率估计

荧光强度Trace

分子闪烁(On/Off柱状图),计数率柱状图(PCH),爆发量柱状图,强度门控制TCSPC,荧光寿命Traces,寿命柱状图, BIFL

稳态各向异性

包含物镜校正系数

导出数据格式

BMP, ASCII, TIFF, BIN

用户自定义脚本编译(STUPSLANG)

用户自定分析步骤,拟合功能,多条件筛选
整合控制外部其他器件




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